Оптический эмиссионный спектрометр OBLF QSG 750-II идеален для анализа чистых металлов, а также сплавов где требуются минимально возможные пределы обнаружения элементов, максимальная сходимость и низкая погрешность результатов. Спектрометр используется как в крупных производствах (металлургических, авиационных, судостроительных и машиностроении и т.п.), так и в исследовательских институтах, центрах и университетах.
Основное отличие QSG750-II от остальных приборов OBLF заключается в наличии системы регистрации данных, основанной на разработанной OBLF GISS-технологии (Gated Integration of Single Sparks — Стробируемого Интегрирования Единичных Искр). Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA — pulse distributed analysis — анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.
Цифровой генератор GDS-III
Цифровой источник искрового разряда, построенный на основе GDS технологии (Gated Discharge Source), позволяет проводить точный анализ как следовых компонентов (на уровне <1 ppm), так и высоких концентраций (5–40%) легирующих элементов в сплавах. Он включает цифровой регулируемый синтезатор для создания начальной формы импульса и модуль управления мощностью для создания реального выходного тока, подаваемого на электрод (аналитическая зона).
Контур поджога полностью твердотельный, и эффекты изменения в нем электрических характеристик не влияют на стабильность аналитических результатов. Цифровое управление источником возбуждения позволяет свободно выбирать форму кривой тока, что гарантирует оптимальный подбор уровня тока источника, его продолжительности и необходимый потенциал возбуждения линий спектра. При этом уменьшаются и матричные эффекты, так как энергия возбуждения менее зависима от электрического сопротивления пробы.
Оптимальные параметры возбуждения выбираются для каждого типа металлов — железо, медь, алюминий, никель, цинк, свинец и их сплавов.
Интегрированная мультиискровая система
Полностью выполнен на твердотельных элементах (без вспомогательного разрядника)
Абсолютно не нуждается в обслуживании
Настройки из программы под аналитические задачи: полный диапазон настроек для получения разряда от дугового до искрового
Возможен режим униполярного разряда
Частота искрового разряда программируется от 100 Гц до 1000 Гц
Защищен от короткого замыкания
Использование GDS-III генератора гарантирует наиболее эффективное использование технологии Стробируемого Интегрирования Единичных Импульсов (GISS), также известной как PDA или TRS. Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA – pulse distributed analysis – анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.
QSG750-II имеет возможность анализа неметаллических включений (НВ), в т.ч. по заранее заданным формулам. Концентрация элементов в НВ может отображаться в отчете об анализе. Традиционно, оптические эмиссионные спектрометры используются на металлургических заводах для контроля химического состава металлов и сплавов, с их помощью также можно получать данные о наличии и составе неметаллических включениях. Большое количество европейских металлургических заводов используют данные о неметаллических включениях, полученных при экспресс-анализе на ОЭ спектрометрах OBLF для внутреннего контроля качества и др.
Основное отличие QSG750-II от остальных приборов OBLF заключается в наличии системы регистрации данных, основанной на разработанной OBLF GISS-технологии (Gated Integration of Single Sparks — Стробируемого Интегрирования Единичных Искр). Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA — pulse distributed analysis — анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.
Цифровой генератор GDS-III
Цифровой источник искрового разряда, построенный на основе GDS технологии (Gated Discharge Source), позволяет проводить точный анализ как следовых компонентов (на уровне <1 ppm), так и высоких концентраций (5–40%) легирующих элементов в сплавах. Он включает цифровой регулируемый синтезатор для создания начальной формы импульса и модуль управления мощностью для создания реального выходного тока, подаваемого на электрод (аналитическая зона).
Контур поджога полностью твердотельный, и эффекты изменения в нем электрических характеристик не влияют на стабильность аналитических результатов. Цифровое управление источником возбуждения позволяет свободно выбирать форму кривой тока, что гарантирует оптимальный подбор уровня тока источника, его продолжительности и необходимый потенциал возбуждения линий спектра. При этом уменьшаются и матричные эффекты, так как энергия возбуждения менее зависима от электрического сопротивления пробы.
Оптимальные параметры возбуждения выбираются для каждого типа металлов — железо, медь, алюминий, никель, цинк, свинец и их сплавов.
Интегрированная мультиискровая система
Полностью выполнен на твердотельных элементах (без вспомогательного разрядника)
Абсолютно не нуждается в обслуживании
Настройки из программы под аналитические задачи: полный диапазон настроек для получения разряда от дугового до искрового
Возможен режим униполярного разряда
Частота искрового разряда программируется от 100 Гц до 1000 Гц
Защищен от короткого замыкания
Использование GDS-III генератора гарантирует наиболее эффективное использование технологии Стробируемого Интегрирования Единичных Импульсов (GISS), также известной как PDA или TRS. Это позволяет достичь супер-низких пределов обнаружения при анализе примесей в металлах. Спектрометрия единичных искр (или PDA – pulse distributed analysis – анализ распределения импульса) предоставляет необходимую информацию о микроскопическом составе образца, о гомогенности пробы, о количестве растворённого и нерастворённого компонента.
QSG750-II имеет возможность анализа неметаллических включений (НВ), в т.ч. по заранее заданным формулам. Концентрация элементов в НВ может отображаться в отчете об анализе. Традиционно, оптические эмиссионные спектрометры используются на металлургических заводах для контроля химического состава металлов и сплавов, с их помощью также можно получать данные о наличии и составе неметаллических включениях. Большое количество европейских металлургических заводов используют данные о неметаллических включениях, полученных при экспресс-анализе на ОЭ спектрометрах OBLF для внутреннего контроля качества и др.
Краткие характеристики спектрометров OBLF |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
